簡要描述:X射線無損膜厚儀 五金件電鍍測厚儀俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等,主要用于精密測量金屬電鍍層的厚度。廣泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電氣、航空航天、磁性材料、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等領(lǐng)域。
品牌 | SKYRAY/天瑞儀器 | 價格區(qū)間 | 10萬-20萬 |
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,電子,航天,汽車,綜合 |
分辨率 | 140EV | 元素分析 | 硫(S)到鈾(U) |
外觀尺寸 | 576(W)×495(D)×545(H)?mm | 樣品室尺寸 | 500(W)×350(D)×140(H)?mm |
X射線無損膜厚儀 五金件電鍍測厚儀分為手持式和臺式二種,手持式又有磁感應(yīng)鍍層測厚儀,電渦流鍍層測厚儀,熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應(yīng)原理時,利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。
X射線無損膜厚儀 五金件電鍍測厚儀XU-100基本參數(shù):
x射線層測厚儀針對不規(guī)則樣品進(jìn)行高度激光定位測試點分析;
軟件可分析5層25種元素鍍層;
通過軟件操作樣品移動平臺,實現(xiàn)不同測試點的測試需求;
配置高分辨率Si-PIN半導(dǎo)體探測器,實現(xiàn)對多鍍層樣品的精準(zhǔn)分析;
內(nèi)置高清晰攝像頭,方便用戶觀測樣品狀態(tài);
高度激光敏感性傳感器保護(hù)測試窗口不被樣品撞擊。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
樣品臺尺寸:230(W)×210(D)mm
移動范圍:50(X)mm, 50(Y)mm
Z軸升降平臺升降范圍:0-140mm
國產(chǎn)X射線測厚儀XU-100產(chǎn)品優(yōu)勢
x射線測厚儀樣品處理方法簡單或無前處理
可快速對樣品做定性分析
對樣品可做半定量或準(zhǔn)定量分析
譜線峰背比高,分析靈敏度高
不破壞試樣,無損分析
試樣形態(tài)多樣化(固體、液體、粉末等)
設(shè)備可靠、維修、維護(hù)簡單
便捷、低廉的售后服務(wù)保證
快速:一般測量一個樣品只需要1~3分鐘,樣品可不處理或進(jìn)行簡單處理。
無損:物理測量,不改變樣品性質(zhì)
準(zhǔn)確:對樣品可以精確分析
直觀:直觀的分析譜圖,元素分布一幕了然,定性分析速度快
環(huán)保:檢測過程中不產(chǎn)生任何廢氣、廢水
技術(shù)指標(biāo)
分析元素范圍:硫(S)~鈾(U)
同時檢測元素:*多24個元素,多達(dá)5層鍍層
分析含量:一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度:一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)
SDD探測器:分辨率低至135eV
*微孔準(zhǔn)直技術(shù):*小孔徑達(dá)0.1mm,*小光斑達(dá)0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭
準(zhǔn)直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復(fù)定位精度:小于0.1um
操作環(huán)境濕度:≤90%
操作環(huán)境溫度:15℃~30℃
性能優(yōu)勢
1.精密的三維移動平臺
2.的樣品觀測系統(tǒng)
3.*圖像識別
4.輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測
5.四種微孔聚焦準(zhǔn)直器,自動切換
6.雙重保護(hù)措施,實現(xiàn)無縫防撞
7.采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
全自動智能控制方式,一鍵式操作!
開機(jī)自動自檢、復(fù)位;
開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣;
關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦;
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點;
點擊軟件界面測試按鈕,自動完成測試并顯示結(jié)果。
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