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火花光電直讀光譜測試儀OES

簡要描述:火花光電直讀光譜測試儀OES采用CMOS檢測器全譜測試技術(shù),可測試覆蓋波長范圍內(nèi)的所有譜線,配置和補(bǔ)充測試基體、通道、分析程序極為方便。儀器體積小巧,方便維護(hù)和實(shí)驗(yàn)室放置?;鸹ㄖ弊x檢測儀是分析黑色金屬及有色金屬成份的快速定量分析儀器。本儀器廣泛應(yīng)用于冶金、機(jī)械及其他工業(yè)部門,進(jìn)行冶煉爐前的在線分析以及中心實(shí)驗(yàn)室的產(chǎn)品檢驗(yàn),是控制產(chǎn)品質(zhì)量的有效手段之一。

  • 產(chǎn)品型號:OES8000S
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-08-26
  • 訪  問  量:631
詳細(xì)介紹
品牌SKYRAY/天瑞儀器波長范圍140-680nm
通道數(shù)全譜刻線數(shù)3600nm
焦距3600mm儀器種類臺式
激發(fā)方式火花價格區(qū)間面議
檢測器類電荷耦合元件(CCD)應(yīng)用領(lǐng)域電子,冶金,汽車,電氣,綜合

火花光電直讀光譜測試儀OES是分析黑色金屬有色金屬成份的快速定量分析儀器。本儀器廣泛應(yīng)用于冶金、機(jī)械及其他工業(yè)部門,進(jìn)行冶煉爐前的在線分析以及中心實(shí)驗(yàn)室的產(chǎn)品檢驗(yàn),是控制產(chǎn)品質(zhì)量的有效手段之一。

火花光電直讀光譜測試儀OES采用CMOS檢測器全譜測試技術(shù),可測試覆蓋波長范圍內(nèi)的所有譜線,配置和補(bǔ)充測試基體、通道、分析程序極為方便。儀器體積小巧,方便維護(hù)和實(shí)驗(yàn)室放置。OES8000s是測試鋼鐵和有色金屬材料元素的通用型儀器,可以滿足包括:Fe基體、Cu基體、Al基體、Ti基體、Pb基體、

Mg基體、Co基體等基體要求,是金屬元素分析的較優(yōu)選擇。

火花光電直讀光譜測試儀OES


全譜分析技術(shù),方便配置更多基體和元素,方便在用戶現(xiàn)場補(bǔ)充配置

儀器體積小巧,對實(shí)驗(yàn)室空間要求低

工作時間長,具有優(yōu)異的穩(wěn)定性和可靠性

樣品測試速度快,單次測試過程少于40

儀器使用和維護(hù)簡單、方便,對人員專業(yè)要求低

原廠安裝分析程序,測試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確,適用合金牌號齊全

配置標(biāo)準(zhǔn)化樣品可對儀器進(jìn)行周期性校正

不使用化學(xué)試劑,測試過程安全、環(huán)保

技術(shù)優(yōu)勢

天瑞直讀光譜儀OES8000s廣泛應(yīng)用于鋼鐵及有色金屬產(chǎn)品元素分析,快速、準(zhǔn)確、穩(wěn)定、可靠測試幾十種元素,滿足工業(yè)研發(fā)、工藝控制、進(jìn)料檢驗(yàn)、產(chǎn)品分選多方面檢驗(yàn)需求,是生產(chǎn)金屬產(chǎn)品的設(shè)備。

全譜檢測測試各種金屬和元素

基于CMOS檢測器全譜測試技術(shù),測試各種金屬中元素的譜線,方便實(shí)現(xiàn)多基體、多元素的測試。

配置和補(bǔ)充測試基體、通道、分析程序極為方便,方便交貨后在客戶處補(bǔ)充測試元素、分析程序。

國際頂級供應(yīng)商提供核心部件

光譜色散元件——光柵由德國Zeiss/法國JY公司制造,保證優(yōu)異的光譜分辨能力

光譜檢測器——CMOS探測器由日本濱松制造,確保譜線檢測靈敏、低噪聲

光室恒溫系統(tǒng)

光室恒溫腔體內(nèi)配置反饋式加熱裝置和隔溫層,有效保證光室內(nèi)恒溫。

由此抑制溫度變化下機(jī)械件尺寸微弱變化導(dǎo)致的光路漂移。除特殊維護(hù),平時保養(yǎng)一般不需進(jìn)行描跡。

同時檢測器工作在恒溫環(huán)境有助于光電轉(zhuǎn)換性能的穩(wěn)定。

快速同時分析鋼鐵、有色金屬材料中多種元素

將已預(yù)處理樣品置于樣品臺后,OES8000s可在至多40秒內(nèi)呈現(xiàn)測試結(jié)果。

可根據(jù)客戶需求,測試幾乎所有鋼鐵、有色金屬材料中常見元素含量。

專業(yè)的測試方案

長期測試技術(shù)服務(wù)的積淀,天瑞儀器為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶提供成熟的測試方案。

測試方案采用針對材料元素含量分類的分析程序,滿足用戶各類常見測試需求。

分析程序由原廠采用國際、國家標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn),經(jīng)專業(yè)儀器軟件擬合、校正。

用戶只需采用原廠配置少量標(biāo)準(zhǔn)化樣品即可完成日常維護(hù),不需購買大量制作分析程序的標(biāo)準(zhǔn)樣品。

工作條件

工作溫度:15-30℃

相對濕度:≤70%

   源:220±5V,單相50Hz,接地電阻<

實(shí)驗(yàn)室無震動、粉塵、強(qiáng)電磁干擾、強(qiáng)氣流、腐蝕性氣體

技術(shù)性能及指標(biāo)

1.   分光室設(shè)計(jì)

 帕邢-龍格結(jié)構(gòu),羅蘭圓直徑400mm

 波長范圍140 – 680nm

 像素分辨率10pm

 恒溫33℃±0.2

 特殊材質(zhì)鑄造,保證光室形變小

 間歇式真空系統(tǒng),可保證真空泵運(yùn)行時間小于5%

2.   凹面光柵

 刻線密度3600l/mm

 光譜線色散率:1.04 nm/mm

3.   檢測器

 高性能線陣CMOS

4.   分析時間

 依樣品種類而不同,一般少于40

5.   激發(fā)光源

 全數(shù)字等離子火花光源技術(shù)

 高能預(yù)燃技術(shù) (HEPS)

 頻率100-1000Hz

 電流1-80A

6.   激發(fā)臺

 3mm樣品臺分析間隙

 噴射電極技術(shù)

 特殊設(shè)計(jì)的氣路系統(tǒng),保證低氬氣消耗

7.   尺寸和重量

 高450mm 長900mm 寬600 mm

 120 kg

8.   功率

 大功率1500W

 待機(jī)功率70W

火花光電直讀光譜測試儀OES

火花光電直讀光譜測試儀OES

火花光電直讀光譜測試儀OES火花光電直讀光譜測試儀OES

火花光電直讀光譜測試儀OES

火花光電直讀光譜測試儀OES

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