EDX Thick 800 X熒光鍍層測(cè)厚儀介紹

EDXThick800是一款全新上照式多功能自動(dòng)微區(qū)X熒光膜厚測(cè)試儀,既滿足原有微小和復(fù)雜形態(tài)樣品的膜厚檢測(cè)功能,又可滿足有害元素檢測(cè)及輕元素成分分析;搭載自動(dòng)化的X/Y/Z軸的三維系統(tǒng)、雙激光定位和保護(hù)系統(tǒng),可多點(diǎn)位編程測(cè)試,被廣泛應(yīng)用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量。

儀器配置01 獨(dú)立的X/Y/Z軸控制系統(tǒng)02 微焦斑X光管 03 可變高壓電源04 防撞板外加防撞激光保護(hù)檢測(cè)器對(duì)儀器進(jìn)行雙重安全保護(hù)05 Fast-SDD探測(cè)器06 雙激光定位裝置07 標(biāo)配可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直孔和濾光片軟件優(yōu)勢(shì)1、清晰化操作界面布局簡(jiǎn)約的布局設(shè)計(jì),讓操作員快速的掌握軟件基本操作。2、快捷鍵按鈕設(shè)計(jì)增加了日常鍍層測(cè)量快捷鍵設(shè)計(jì)按鈕,可快速檢測(cè),提升工作效率。3、高清可視化窗口可清晰直觀的觀測(cè)到被檢測(cè)樣品的狀態(tài),通過自動(dòng)對(duì)焦、移動(dòng)快捷鍵,調(diào)節(jié)到用戶的觀測(cè)效果。4、多通道數(shù)字譜圖界面清晰化呈現(xiàn)被檢樣品的元素譜圖,配合先進(jìn)的解譜技術(shù),便可精準(zhǔn)計(jì)算出結(jié)果。5、測(cè)試結(jié)果匯總布局設(shè)計(jì)可快速查找當(dāng)前測(cè)試數(shù)據(jù),并可對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行報(bào)告生成,且快速查詢以往測(cè)試數(shù)據(jù)。應(yīng)用行業(yè)航天新能源 電子通訊 電鍍行業(yè)高校及科研院 貴金屬鍍飾 磁性材料