X射線衍射儀（XRD）測(cè)試分析介紹

XRD的基本原理：

X射線與物質(zhì)作用時(shí)，就其能量轉(zhuǎn)換而言，一般分為三部分，其中一部分被散射，一部分被吸收，一部分通過(guò)物質(zhì)繼續(xù)沿原來(lái)方向傳播。散射的X射線與入射X射線波長(zhǎng)相同時(shí)對(duì)晶體將產(chǎn)生衍射現(xiàn)象，即晶面間距產(chǎn)生的光程差等于波長(zhǎng)的整數(shù)倍時(shí)。將每種晶體物質(zhì)的衍射花樣與標(biāo)準(zhǔn)衍射花樣對(duì)比，利用三強(qiáng)峰原則，即可鑒定出樣品中存在的物相。

X-射線的產(chǎn)生是由在X-射線管（真空度10-4Pa）中有30-60KV的加速電子流，沖擊金屬（如純Cu或Mo）靶面產(chǎn)生。常用的射線是MoKα射線，包括Kα1和Kα2兩種射線（強(qiáng)度2:1），波長(zhǎng)為71.073pm。

應(yīng)用：主要用于物相分析、晶體結(jié)構(gòu)分析、織構(gòu)分析，晶胞參數(shù)、結(jié)晶度、晶型含量等的測(cè)定