鍍層膜厚儀,簡稱為,鍍層厚度檢測儀,是用來專業(yè)測量,金鎳,銅厚,等,鍍層的厚度的標準儀器。
使用而實用的正比計數(shù)盒和電制冷探測器,以實在的價格定位滿足鍍層厚度測量的要求,且全新的*具有現(xiàn)代感的外形、結構及色彩設計,使儀器操作*人性化、*方便。
長效穩(wěn)定X銅光管
半導體硅片電制冷系統(tǒng),摒棄液氮制冷
內置高清晰攝像頭,方便用戶隨時觀測樣品
脈沖處理器,數(shù)據(jù)處理快速準確
手動開關樣品腔,操作安全方便
三重安全保護模式
整體鋼架結構、外型高貴時尚
FP軟件,無標準樣品時亦可測量
X熒光鍍層測厚儀分析含量:一般為2ppm到99.9% 鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同)的微孔準直技術:小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mmSDD探測器:分辨率低至135eV分析元素范圍:硫(S)~鈾(U)
儀器配置:
高壓電源:0-50kv
光管管流:0uA-1000uA
濾光片:可選擇多種定制切換
探測器:Si-Pin/(SDD可選)
多道分析器
樣品腔尺寸:310*280*60(mm)
外部尺寸:380*372*362
重量:29kg
應用領域:黃金、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測;金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;貴金屬加工和飾加工行業(yè);銀行、飾銷售和檢測機構;電鍍行業(yè)。
快速、的分析:
大面積正比計數(shù)探測器和50瓦微聚焦X射線光管(X射線光束強度大、斑點小,樣品激發(fā)佳)相結合,提供靈敏度
簡單的元素區(qū)分:
通過次級射線濾波器分離元素的重疊光譜
性能優(yōu)化,可分析的元素范圍大:
預置800多種容易選擇的應用參數(shù)/方法
的長期穩(wěn)定性:
只要客戶方的系統(tǒng)存在問題,請即刻我司由我司技術遠程用戶解決問題。
當客戶方的系統(tǒng)被診斷為系統(tǒng)故障,而無法通過電話/電子郵件方式、遠程撥入分析等手段解決時,我們的現(xiàn)場會帶上相應的系統(tǒng)工具和軟件立即趕赴現(xiàn)場進行緊急維護。我司承諾在接到維修及技術服務要求后立即做出相應,在遠程不能解決問題的情況下,我司工程人員將在內趕到現(xiàn)場,48小時解決出現(xiàn)的問題,保證系統(tǒng)恢復正常運行。
在客戶系統(tǒng)運行過程中,我司將采取專人定期、不定期方式進行訪問交流,調查項目實施和維護情況,聽取用戶意見,現(xiàn)場解決用戶存在問題,現(xiàn)場對系統(tǒng)進行測試和優(yōu)化,及時發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)存在的問題或潛在的故障,提前消除隱患,確保系統(tǒng)安全、穩(wěn)定的運行,并對此系統(tǒng)運行質量評估。
以上客戶服務響應方式并不是相互孤立、互不相關的,而是以公司的客戶服務中心的組織結構為依托,多種靈活的服務方式相互滲透、緊密結合成為完整統(tǒng)一的客戶服務故障響應體系。這種體系經(jīng)多個大型工作項目的實際運行體驗,以被認為是可行的故障響應方式。
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